點擊咨詢產(chǎn)品電容器高溫高阻測試系統(tǒng)(HTIR2010)
該系統(tǒng)采用自動化測量系統(tǒng)，可進行室溫＋10℃~150℃電容器IR值測量。測量時，通過模組控制測試探頭的位移進行測試，確保每次只連接一只電容器。機械接觸代替繼電器切換，提高測量精度。
功能
- 實時監(jiān)測被測器件IR值
- 選用Keithley 6517B 靜電計/高阻表進行測量
- 可根據(jù)不同器件封裝，定制專用老化測試板
- 裝載阻抗大于10 Ω的電容器時，測試到的阻抗不小于10 Ω
產(chǎn)品特性
試驗溫區(qū) | 1個 |
試驗溫度 | 室溫+10~150℃ |
老化試驗區(qū) | 16區(qū) |
單區(qū)工位數(shù) | 48(典型) |
測量儀表 | Keithley 6517B靜電計/高阻表 |
測試電壓 | 0~1000V |
絕緣電阻范圍 | 1M2~1TQ |
整機供電 | 單相AC220V±22V |
最大功率 | 5KW(典型) |
整機重量 | 600KG(典型) |
整機尺寸 | 1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H) |
適用標準
GJB360 MIL-STD-202E
適用器件
適用于片式封裝: 04/06/08/10/12/18/20/22/28/32等系列