間歇壽命老化測試系統(tǒng)(IOL2000)

該系統(tǒng)適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二極管、MOS管等功率器件進行功率循環(huán)試驗和恒流功率試驗。系統(tǒng)每個區(qū)位風道獨立，充分避免不同區(qū)位試驗進程不同對試驗結果造成影響；在實驗過程中，監(jiān)測器件的電壓、結溫特性，并且提供結溫特性曲線以備后期數(shù)據(jù)分析。

功能

風冷功率循環(huán)試驗
每個區(qū)位獨立風道
大風力散熱風機
最大60A電流試驗能力
支持全開通加熱模式

產品特性

試驗溫區(qū)	1個(K系數(shù))
試驗溫度	室溫+10~200℃(K系數(shù))
老化試驗區(qū)	16區(qū)(8/16/20區(qū)可選)
單區(qū)工位數(shù)	4(典型)
工位最大可串聯(lián)數(shù)量	8
老化電壓范圍	0~60V
電壓檢測精度	±(1%+2LSB)
電流檢測范圍	100mA~60A
電流檢測精度	±(1%+100mA)
結溫測試電流(Isense)	10~100mA
整機供電	三相AC380V±38V
最大功率	30KW(典型)
整機重量	1200KG(典型)
整機尺寸	2075mm(W)×1350mm(D)×1950mm(H)

適用標準

GJB128 MIL-STD-750D AEC-Q101

適用器件

適用于MOS管、二極管、三極管等功率器件