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        產(chǎn)品中心
        可靠性測(cè)試設(shè)備
        功率循環(huán)設(shè)備
        功率循環(huán)測(cè)試
         IGBT功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)
     (PC3600C)
                    IGBT功率循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)(PC3600C)
該系統(tǒng)適用于各種尺寸的IGBT模塊的功率循環(huán)試驗(yàn),且運(yùn)用先進(jìn)的JEDEC靜態(tài)測(cè)試方法(JESD51-1)。 通過改變電子器件的輸入功率,使得器件產(chǎn)生溫度變化。變化過程中,通過測(cè)試芯片的瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線,并對(duì)測(cè)試波形進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,得到該電子器件的全面熱特性。
功能
- 支持分鐘級(jí)/秒級(jí)功率循環(huán)測(cè)試
 - 搭載油冷平臺(tái),可快速自動(dòng)校準(zhǔn)被測(cè)器件的K系數(shù)
 - 夾具支持可調(diào)力度及深度,可對(duì)不同封裝的模塊進(jìn)行有效的夾固
 - 具備電磁水閥,可根據(jù)實(shí)際情況自動(dòng)調(diào)整冷卻水流,亦可手動(dòng)調(diào)整
 - 通過測(cè)試器件的瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線,對(duì)測(cè)試波形進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,得到該電子器件的全面特性
 - 充分的實(shí)驗(yàn)員人體安全考慮設(shè)定
 
產(chǎn)品特性
試驗(yàn)溫區(qū)  | 3個(gè)  | 
試驗(yàn)溫度  | 水冷板:+10℃~+80℃  | 
老化試驗(yàn)區(qū)  | 3區(qū)  | 
恒溫系統(tǒng)控制精度  | 水冷系統(tǒng)為+0.5℃  | 
結(jié)溫測(cè)試精度  | ±2℃  | 
冷板及殼溫測(cè)試精度  | ±2℃  | 
加熱電流  | 600A/區(qū)(支持三區(qū)并聯(lián)1800C)  | 
測(cè)試電流  | ±(10~1000mA)  | 
測(cè)試電流精度及分辨率  | ±(0.3%+2mA),分辨率0.1mA  | 
整機(jī)供電  | 三相AC380V+38V  | 
整機(jī)功率  | 30KW(典型)  | 
整機(jī)重量  | 500Kg(典型)  | 
整機(jī)尺寸(不含水冷機(jī))  | 1900mm(w)x900mm(D) x1300mm(H)  | 
適用標(biāo)準(zhǔn)
JESD51 AQG324
適用器件
適用于各種尺寸的IGBT模塊和MOS模塊
                
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