點(diǎn)擊咨詢產(chǎn)品光耦老化測試系統(tǒng)(GPIC2004)
該系統(tǒng)可對各種單光耦、雙光耦、四光耦器件進(jìn)行高溫恒流和恒功率老化，適應(yīng)輸入端種類：各種雙向輸入型、單向輸入型器件；適應(yīng)輸出端種類：三極管、達(dá)林頓管、可控硅、數(shù)字電路等。系統(tǒng)可適用于研究所、微電路器件生產(chǎn)廠等進(jìn)行各種器件的壽命篩選試驗(yàn)和二級篩選試驗(yàn)，適用于小批量多品種的試驗(yàn)要求。
功能
- 驅(qū)動(dòng)板功能模塊化，由各個(gè)模塊實(shí)現(xiàn)不同功能，后續(xù)更換維修方便
- 可對不同通道數(shù)，種類光耦進(jìn)行測試，通用性強(qiáng)
- 有1024個(gè)恒流環(huán)，可對每一路單獨(dú)校準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)高精度測試
- 可兼容各種不同型號老化板，實(shí)現(xiàn)對不同器件的老化
產(chǎn)品特性
試驗(yàn)溫區(qū) | 1個(gè) |
試驗(yàn)溫度 | 室溫+10~200℃ |
老化試驗(yàn)區(qū) | 16區(qū) |
負(fù)載恒流控制范圍 | 1~80mA |
程控精度 | ±(1.0%xRD+2LSB) |
電壓檢測范圍 | 0.1V~120.0V、誤差±(1.0%xRD+2LSB) |
老化通道數(shù) | 16x64=1024 |
漏電流檢測范圍 | 1~100mA |
漏電流檢測精度 | ±(1.0%xRD+2LSB) |
老化模式 | 具有恒流恒功率兩種工作模式 |
恒功率檢測誤差 | ±(3.0%xRD+3mW) |
電源 | 0~60V/40A(8路可選配) |
整機(jī)供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 8KW(典型) |
整機(jī)重量 | 650KG(典型) |
整機(jī)尺寸 | 1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H) |
適用標(biāo)準(zhǔn)
GJB128 GJB33 MIL-STD-75
適用器件
適應(yīng)于各種單光耦、雙光耦、四光耦器件；各種雙向輸入型、單向輸入型器件；三極管、達(dá)林頓管、可控硅、數(shù)字電路等