點擊咨詢產(chǎn)品高溫柵偏老化測試系統(tǒng)(HTGB2000)
該系統(tǒng)可進行室溫+ 10°C-200C的高溫柵偏老化測試，老化過程中實時監(jiān)測被測器件的漏電流狀態(tài)、被測器件的電壓狀態(tài)，并根據(jù)需要，記錄老化試驗數(shù)據(jù)，導(dǎo)出試驗報表。
功能
- nA級別的漏電流檢測精度
- 整機30s的全工位數(shù)據(jù)刷新
- 可定制工位老化電壓獨立控制功能，實現(xiàn)單工位老化超限剔除
- 充分的實驗員人體安全考電設(shè)定
產(chǎn)品特性
試驗溫區(qū) | 1個 |
試驗溫度 | 室溫+10~200℃ |
老化試驗區(qū) | 16區(qū)(16/32/40/48區(qū) 可選) |
單區(qū)工位數(shù) | 80(典型) |
老化電壓范圍 | 0~±100V |
電壓檢測精度 | ±(1%+2LSB) |
電流檢測范圍 | 1nA~1mA |
電流檢測精度 | ±(1%+10nA) |
整機供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 8KW(典型) |
整機重量 | 680KG(典型) |
整機尺寸 | 1450mm(W) x1450mm (D) x2000mm (H) |
適用標準
JESD22-A101 AQG324 GJB128MIL-STD-750D
適用器件
適用于MOS、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等